ICテスト開発

対応業務

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  • 半導体テスターを使用してのテスト開発。
  • 選別検査工程(試作・信頼性検査、中間検査、製品検査)対応ハード開発/製作、アプリケーション開発等、テスト開発全般。
  • 評価用デバイスの試作プログラム及び立ち上げ迄のサポート。
  • テスト効率化、お客様のご要望に応じてカスタマイズも対応。

テスターコンバージョン

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半導体デバイスを一貫して仕様作成~評価~テスト…信頼性迄

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ハードウェア開発

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ハードウェア開発

お問い合わせ
協栄産業株式会社 TRCオフィス
〒143-6565 東京都大田区平和島6-1-1
〈 ICデザイン事業部 連絡先 〉
03-3767-8711
 (受付時間:平日 午前8時45分~午後5時30分)
03-3767-2394